• ISSN 0258-2724
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湿热导致电子元件封装脱层断裂的分析

王军 杨帆 陈大鹏

王军, 杨帆, 陈大鹏. 湿热导致电子元件封装脱层断裂的分析[J]. 西南交通大学学报, 2002, 15(2): 125-128.
引用本文: 王军, 杨帆, 陈大鹏. 湿热导致电子元件封装脱层断裂的分析[J]. 西南交通大学学报, 2002, 15(2): 125-128.
WANG Jun, YANG Fan, CHEN Da-peng. The Analysis of Delamination and Fracture in IC Packages[J]. Journal of Southwest Jiaotong University, 2002, 15(2): 125-128.
Citation: WANG Jun, YANG Fan, CHEN Da-peng. The Analysis of Delamination and Fracture in IC Packages[J]. Journal of Southwest Jiaotong University, 2002, 15(2): 125-128.

湿热导致电子元件封装脱层断裂的分析

The Analysis of Delamination and Fracture in IC Packages

  • 摘要: 采用高聚物基复合物作为封装材料的微电子元件易受到湿气的侵入,在焊接过程中,由于温度和湿气的 影响,引发电子元件的脱层断裂。对于湿热敏感的高分子材料,当考虑其由湿热的弹性断裂问题时,裂尖的能量 释放率可以表示为一个积分表达式。运用有限元法,利用能量释放率的表达式,对不同的裂纹尺寸和封装材料 厚度,计算了在不同焊接温度下能量释放率的曲线。对比能量释放率的试验数据,对电子元件的断裂进行了预 测。

     

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出版历程
  • 刊出日期:  2002-04-25

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