• ISSN 0258-2724
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串联半桥式场效应管弧焊逆变器可靠性分析

屈金山 李治 王元良

屈金山, 李治, 王元良. 串联半桥式场效应管弧焊逆变器可靠性分析[J]. 西南交通大学学报, 1998, 11(6): 693-698.
引用本文: 屈金山, 李治, 王元良. 串联半桥式场效应管弧焊逆变器可靠性分析[J]. 西南交通大学学报, 1998, 11(6): 693-698.

串联半桥式场效应管弧焊逆变器可靠性分析

  • 摘要: 在建立了串联半桥式场效应晶体管弧焊逆变器主回路工作过程数学模型的基础上,讨 论了电路主要参数对逆变器工作过程及其可靠性的影响,指出了弧焊逆变器设计中应 注意的问题。功率MOSFET 的良好散热条件是十分重要的,应尽可能使器件的工作 温度保持在设计的水平上。逆变器主电路设计是影响弧焊逆变器整机可靠性的一个 重要的因素,高频变压器的合理设计尤为重要,应尽量减小漏感,采用导磁率高、耗能 低的新型磁性材料。

     

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出版历程
  • 刊出日期:  1998-12-25

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