• ISSN 0258-2724
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精密光学元件表面洁净度成像检测系统

朱小龙 王翊 谢志江 刘长春 楚红雨

朱小龙, 王翊, 谢志江, 刘长春, 楚红雨. 精密光学元件表面洁净度成像检测系统[J]. 西南交通大学学报, 2009, 22(6): 958-962.
引用本文: 朱小龙, 王翊, 谢志江, 刘长春, 楚红雨. 精密光学元件表面洁净度成像检测系统[J]. 西南交通大学学报, 2009, 22(6): 958-962.
ZHU Xiaolong, WANG Yi, XIE Zhijiang, LIU Changchun, CHU Hongyu. Surface Cleanliness Level Detection by Imaging Method for Precision Optical Elements[J]. Journal of Southwest Jiaotong University, 2009, 22(6): 958-962.
Citation: ZHU Xiaolong, WANG Yi, XIE Zhijiang, LIU Changchun, CHU Hongyu. Surface Cleanliness Level Detection by Imaging Method for Precision Optical Elements[J]. Journal of Southwest Jiaotong University, 2009, 22(6): 958-962.

精密光学元件表面洁净度成像检测系统

详细信息
    作者简介:

    朱小龙(1960- ),男,博士研究生,研究方向为图像处理及模式识别.E-mail:njdachun1234@163.com

Surface Cleanliness Level Detection by Imaging Method for Precision Optical Elements

  • 摘要: 为解决精密光学元件表面洁净度检测面临疵病干扰及测量精度不理想的问题,提出了基于机器视觉方法的图像检测系统,设计了适用于多种尺寸待检测元件的活动夹具和三维电控平台.利用Canny边缘检测算子分割出被检对象边缘,用凸壳的方法得到被检对象的封闭区域,采用关联向量机法,对待检测对象封闭区域的几何空间、灰度空间和变换域空间参数构成的待检测向量进行分析,识别出固体颗粒残留物和非固体颗粒残留物,最终得到精密光学元件表面的洁净度等级.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2008-12-02
  • 刊出日期:  2010-01-20

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